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SNJ54BCT8374AFK

零件编号： SNJ54BCT8374AFK
产品分类： 专业逻辑
制造商： Texas Instruments
描述： SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
封装：
包装： 管子
数量： 0
RoHS 状态： YES
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产品参数
PDF(1)
类型描述
制造商Texas Instruments
系列54BCT
包装管子
产品状态ACTIVE
包装/箱28-CLCC
安装类型Surface Mount
位数8
逻辑类型Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
工作温度-55°C ~ 125°C
电源电压4.5V ~ 5.5V
供应商设备包28-LCCC (11.43x11.43)

Roving Networks (Microchip Technology)
DSC1001DI1-133.0000T
MEMS OSC XO 133.0000MHZ CMOS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
DSC1001BL5-024.5760T
MEMS OSC XO 24.5760MHZ CMOS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
DSC1122BI1-100.0000T
MEMS OSC XO 100.0000MHZ LVPECL
Roving Networks (Microchip Technology)
DSC1122AI1-125.0000T
MEMS OSC XO 125.0000MHZ LVPECL
Roving Networks (Microchip Technology)
DSC6001JE1B-052.0000T
MEMS OSCILLATOR, ULTRA LOW POWER
Roving Networks (Microchip Technology)
DSC1001BI5-133.3330T
MEMS OSC XO 133.3330MHZ CMOS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
DSC1123CI2-175.0000T
MEMS OSC XO 175.0000MHZ LVDS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
DSC1123DI1-125.0000T
MEMS OSC LOW JITTER 125MHZ LVDS
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